一、使用儀器時(shí)應(yīng)注意哪些問(wèn)題？

⒈基體金屬特性

標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。

⒉基體金屬厚度

檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度。

⒊邊緣效應(yīng)

不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。

⒋曲率

不應(yīng)在試件彎曲表面上測(cè)量。

⒌讀數(shù)次數(shù)

通常由于磁性測(cè)厚儀的每次讀數(shù)并不完全相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在指定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。

⒍表面清潔度

測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。

二、影響儀器測(cè)量精度的因素

⒈基體金屬磁性

磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理及冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

⒉基體金屬厚度

每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。

⒊邊緣效應(yīng)

儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。

⒋曲率

試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。

⒌表面粗糙度

基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次磁性測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。

⒍磁場(chǎng)

周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。

⒎附著物質(zhì)

對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。

⒏測(cè)頭壓力

測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此儀器測(cè)頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。

⒐測(cè)頭的放置

測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。

⒑試件的變形

測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。

三、LS220H渦流+磁性測(cè)厚儀

鐵磁性金屬與非鐵磁性金屬有著非常大的差異，因此在測(cè)量鐵磁性金屬基材上的涂層厚度時(shí)要使用專門的磁性測(cè)厚儀，但是目前也有一些儀器是可以同時(shí)測(cè)量?jī)煞N類型的金屬基材的，如磁性測(cè)厚儀LS220H，這樣的磁性和非磁性測(cè)量?jī)捎玫膬x器因?yàn)闇y(cè)量的方便快捷而受到了行業(yè)內(nèi)的一致好評(píng)。